一、CH-1-S型薄膜測厚儀概述: CH-1-S型薄膜測厚儀適用于機械測量法測定塑料薄膜和薄片的厚度(不適用于壓花的薄膜和薄片)。本測厚儀執(zhí)行GB-T6672-2001標準。 二、CH-1-S型薄膜測厚儀主要參數(shù): 1. 量程:0-1mm 分度值:0.001mm 2. 上測頭曲率半徑:15-50mm 3. 測頭對試樣施加負荷我:0.1-0.5N 4. 測量精度:100vm以內(nèi)<1vm 100-250vm<2vm 250vm<3vm
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