土樣制備,土的組構(gòu)土的類型特征分析圖像顯微鏡 用于偏光顯微鏡研究的薄片厚度為30微米,因此這種擾動的影響不大,對于x-射線衍射的研究,一微米的擾動深度,影響也不大。 干燥樣品的破裂面有時也可以保持原組構(gòu)狀態(tài),但破裂后需對破裂表面輕輕地吹拂乾凈或?qū)Ρ砻孀鲃冸x處理,因為破裂的樣品表面可能有松動的顆粒,或者因為破裂面容易在樣品薄弱部位通過而不能代表樣品的結(jié)構(gòu)特征。 透射電子顯微鏡需要300-500A超薄片進行觀察,這種超薄片是用切片機來制備的,切片過程中如遇到粗顆粒將樣品的組構(gòu)產(chǎn)生擾動。 土樣制備的方法主要取決于所研究土的組構(gòu)特征、觀察方法、土的類型、含水量和強度等因素,根據(jù)以上這些因素就可選擇制樣的方法和預估這種方法對測定結(jié)果的影響程度。
|