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粒度測(cè)量顯微鏡-測(cè)量的是顆粒的表觀(guān)粒度投影尺寸粒度測(cè)量 顯微鏡法測(cè)量的是顆粒的表觀(guān)粒度，即顆粒的投影尺寸。對(duì)稱(chēng)性好的球狀顆粒(如噴霧粉)或立方體顆粒可直接按長(zhǎng)度計(jì)量，但對(duì)于非球狀的不規(guī)則顆粒，如緒論中談到的，這種直接計(jì)量是不可能的，顆粒的“尺寸”必須考慮到顆粒形狀，有不同的表示方法。由顯微刻度尺的垂線(xiàn)與顆粒投影輪廓線(xiàn)相切的兩條平行線(xiàn)間距離來(lái)表示；Mat-tin直徑在粒度分析中是常用的，由它把任意方位的顆粒劃分成兩個(gè)投影面積大致相等的部分；最大水平截距是指刻度尺水平方向上，從顆粒一端到另一端間的最大距離；投影面積直徑則是指顆粒投影面積相當(dāng)?shù)膱A的直徑。在一些國(guó)家，使用投影面積直徑作為制訂顯微鏡法粒度分析的基準(zhǔn)在實(shí)際上，粒度測(cè)量應(yīng)用垂直投影法比較簡(jiǎn)單。就是說(shuō)，所測(cè)顆粒在視場(chǎng)內(nèi)向一個(gè)方向移動(dòng)，順序地?zé)o選擇性地逐個(gè)進(jìn)行長(zhǎng)度測(cè)量，經(jīng)過(guò)長(zhǎng)徑測(cè)長(zhǎng)徑，經(jīng)過(guò)短徑測(cè)短徑，不轉(zhuǎn)動(dòng)目鏡上顯微刻度尺。比垂直投影法更簡(jiǎn)單的是線(xiàn)性切割法，即測(cè)量落在顯微刻度尺上所有顆粒的被截取部分長(zhǎng)度， 由于顆粒在玻璃片上分布是無(wú)定向的，因此只要測(cè)量的顆粒數(shù)足夠多，測(cè)量結(jié)果能反映一定的真實(shí)性。粒度分布測(cè)量的顆粒數(shù)量多少，視測(cè)量結(jié)果達(dá)到穩(wěn)定為原則，通常與顆粒形狀、大小和分布范圍有關(guān)，也與采用的測(cè)量方法有關(guān)。如對(duì)形狀較規(guī)則的顆粒，測(cè)量100個(gè)顆粒也就可以了；而對(duì)不規(guī)則形狀的顆?；虺叽绶植挤秶容^寬的顆粒，則需要測(cè)量的顆粒數(shù)量就應(yīng)該多些，一般約需200--,2000個(gè)。不同的平均粒度值，在與其它粒度測(cè)量方法得到的平均粒度值進(jìn)行比較時(shí)是有用的。 ‘ 遇到混合顆粒的粒度分析，其它粒度測(cè)量方法幾乎是無(wú)能為力的，顯微鏡法是唯工一可供測(cè)量的方法。由于混合顆粒中每種組分的粒度組成與其平均粒度、顆粒形狀和該組分的密度有關(guān)，因此比起同種組分的顆粒情況，計(jì)算時(shí)應(yīng)稍加小心，否則容易出差錯(cuò)。
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