金屬氧化層顯微的細(xì)孔,鍍層顯微結(jié)構(gòu)測(cè)量顯微鏡 氧化層的多孔性 氧化層的形成和生長(zhǎng)一直是在金屬抽氧化物轉(zhuǎn)變的情況下進(jìn)行的,當(dāng)電解液和金屬的接觸能夠保持時(shí),則氧化物的形成才能連續(xù)不斷,而且產(chǎn)生的氧化層也不是完全致密的。最近的研究指出,這種情況的出現(xiàn),是由于鍍層上布滿了超顯微的細(xì)孔或通道,新形成的氧化層或氧化層的增長(zhǎng),一直是發(fā)生在微孔的根部面晃是在氧化層的外表面。 假定微孔為圓形截面,則微孔的直徑約為0.1微米 鍍層顯微結(jié)構(gòu)的研究。包括了以下內(nèi)容: 1)微觀形貌觀察 2)微區(qū)化學(xué)成分分析 3)微區(qū)相組成分析 4)鍍層的晶體結(jié)構(gòu)、擇優(yōu)取向和界面取向關(guān)系 5)鍍層的表面、晶界和相界狀態(tài) 6)鍍層的缺陷 7)鍍層的微觀電子結(jié)構(gòu) 在現(xiàn)代物理實(shí)驗(yàn)中,用電子束,離子束和電磁波作用于物質(zhì)、分析得到的信號(hào),從而取得關(guān)于物質(zhì)狀態(tài)的資料,這是我們進(jìn)行薄膜顯微結(jié)構(gòu)研究的主要方法。由表可以看出,一種方法常??梢缘玫蕉喾N信息。例如,用X射線衍射,可以分析鍍層的晶體結(jié)構(gòu)、缺陷、擇優(yōu)取向(織構(gòu))和內(nèi)應(yīng)力。因此,在實(shí)驗(yàn)中要充分結(jié)果更可靠,或者使分析能夠更加全面,常常將多種方法組合到一臺(tái)儀器上,例如,在分析電鏡上,配備了能譜、能量損失譜和微束衍射裝置。在多功能表面分析儀上則能使了俄歇能譜、光電子能譜、低能電子衍射和二次離子質(zhì)譜。這種多方法的組合運(yùn)用,使我們能夠得到單一方法無(wú)法取得的效果。
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