讀數(shù)顯微鏡,取兩個(gè)讀數(shù)平均-工具型光學(xué)儀器 (1)半周期法:對(duì)于周期誤差,如取相隔180°方向的兩次讀數(shù)的算術(shù)平均值,便可消除。例如測(cè)度盤(pán)可在相距半周期上置兩個(gè)讀數(shù)顯微鏡,取兩個(gè)讀數(shù)平均,就可消除此誤差。 (2)對(duì)稱(chēng)法:對(duì)具有線(xiàn)性的系統(tǒng)誤差,也可以取對(duì)稱(chēng)于中間數(shù)的兩邊測(cè)量值的平均數(shù)消除此誤差。例如測(cè)量?jī)x器均勻地受溫度影響而使測(cè)量值均勻地增大或減小即可消除系統(tǒng)誤差的影響。 以上所討論的消除系統(tǒng)誤差的方法并不可能將全部誤差都消除掉,而只能說(shuō)是絕大部分的誤差被消除,因此只是近似于實(shí)際值。 從偶然誤差的特性中知道,測(cè)量誤差愈大,它出現(xiàn)的概率愈小,也就是說(shuō)大誤差出現(xiàn)的機(jī)會(huì)是很小的。但是,由于測(cè)量者不小心在測(cè)量過(guò)程中偶然讀錯(cuò)、寫(xiě)錯(cuò)、算錯(cuò)等等因素還是可能存在的,這是明顯歪曲測(cè)量結(jié)果,應(yīng)設(shè)法發(fā)現(xiàn)和剔除它。 要發(fā)現(xiàn)單次測(cè)量有無(wú)過(guò)失誤差,一般是重新測(cè)量一次看它是否相差太多。
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