接觸式和非接觸式掃描電子顯微鏡簡介-解析度高低
原子力顯微鏡的操作模式可分為
1. 接觸式（contact mode）
此模式的探針和樣品的作用力是原子間的排斥力，這是最早被發(fā)現出來的，
由于排斥力反應的距離約在數埃（angstrom，?）之間，且對距離非常敏感，
所以可以得到很高的解析度。不過由于接觸距離極接近于樣品，過大的作用力會損害樣品，由其是軟性材質影響更
大，所以選擇適當的作用力便很重要。
2. 非接觸式（non-contact mode）
為了解決接觸式原子力顯微鏡可能損壞樣品的缺點，便有非接觸式原子力顯微鏡發(fā)展出來，
這是利用探針和樣品間長距離的吸引力－凡得瓦力來運作，其反應距離約在數十埃左右。由于探針和樣品沒有
接觸，因此沒有破壞樣品的顧慮。但因凡得瓦爾力對距離的變化非常小，
所以必須使用振動及調變的技術（Vibration and Modulation Techniques）
來改善訊號對雜訊的比例（signal / noise），其解析度并無法像接觸式原子力顯微鏡來得高
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