自動化檢測散熱片的細(xì)微缺陷-光路儀器與CCD搭配
本研究的動機(jī)，來自于CPU散熱片制造商的需求，
主要分為二項需求；第工一項是檢測散熱片上的各樣式缺陷，這些缺陷會造成CPU散熱不均勻分佈，
容易在缺陷處產(chǎn)生熱應(yīng)力造成CPU損壞；第二項是如何將檢測系統(tǒng)用于生產(chǎn)線需求，就是自動化流程與檢測速度。
在第工一項需求中，必須先克服如何取得較清晰的檢測影像，設(shè)計一套光路系統(tǒng)與CCD性能作搭配；再來需要克服，
低訊雜比缺陷影像的檢測，這必須做影像高低頻訊號分析與強(qiáng)化處理，再搭配一些影像處理方法；上述二種方法是為了解決第工一項需求。
在第二項需求中，必須設(shè)計出可同時檢測多片散熱片的機(jī)構(gòu)，須考慮到每個動件間運動空間與受力分佈，
為了避免產(chǎn)生干涉動作與應(yīng)力集中造成機(jī)構(gòu)形變；再來需要規(guī)劃檢測動作與控制系統(tǒng)的匹配，
其中控制系統(tǒng)包含線性模組、IO模組與取像模組…等，檢測流程與控制系統(tǒng)匹配的方法，
必須透過程式多執(zhí)行緒的方式達(dá)成，利用上述的方法來達(dá)成自動化流程；至于檢測速度的提昇，
除了優(yōu)化程式碼還需要借助環(huán)境的調(diào)控與設(shè)定。
低對比度缺陷影像自動光學(xué)檢測機(jī)臺設(shè)計研發(fā)的方法與結(jié)果。
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