光線覓跡是光學(xué)設(shè)計(jì)程式的精髓,雖然像差理論提供許多光學(xué)系統(tǒng)行為之理解, 但正確的光線覓跡數(shù)據(jù)可以讓透鏡設(shè)計(jì)者對(duì)于其設(shè)計(jì)是否可以如預(yù)期的情況提供進(jìn)一步之確定。 事實(shí)上,有時(shí)候這個(gè)說法并不對(duì),因?yàn)楣饩€覓跡數(shù)據(jù)只描述所追蹤的光束,而不是所有的光束,所以結(jié)果可能有誤。 不過,在實(shí)用上,光學(xué)設(shè)計(jì)幾乎永遠(yuǎn)使用光線覓跡來進(jìn)行,至少最后在最后階段一定有光束覓跡的分析與驗(yàn)證 。 光線覓跡的複雜性是二重的。一部份包括演算法的發(fā)展,以精確地計(jì)算經(jīng)過光學(xué)系統(tǒng)的光束軌跡, 另一部份則包括被追蹤的光束如何去指明(亦即定出其規(guī)格)及如何對(duì)結(jié)果數(shù)據(jù)的解釋!
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